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NEWS INFORMATION隨著電力系統(tǒng)的電網(wǎng)規(guī)模的不斷擴(kuò)大、電力負(fù)荷要求的不斷提高,電力系統(tǒng)中使用的各種類(lèi)型的高壓設(shè)備的損壞、故障也不斷增加,相應(yīng)對(duì)預(yù)防性維護(hù)的要求也不斷提高。輸供電線路和變電站配電等設(shè)備在大氣環(huán)境下工作,在某些情況下隨著絕緣性能的降低、出現(xiàn)結(jié)構(gòu)缺陷,或表面局部放電現(xiàn)象,電暈和表面局部放電過(guò)程中,電暈和放電部位將大量輻射紫外線,這樣便可以利用電暈和表面局部放電的產(chǎn)生和增強(qiáng)間接評(píng)估運(yùn)行設(shè)備的絕緣狀況和及時(shí)發(fā)現(xiàn)絕緣設(shè)備的缺陷。目前,可用于診斷目的的放電過(guò)程的各種方法中,光學(xué)方法的靈敏度、分辨率和抗干擾能力。即采用高靈敏度的紫外線輻射接受器,記錄電暈和表面放電過(guò)程中輻射的紫外線,再加以處理、分析達(dá)到評(píng)價(jià)設(shè)備狀況的目的。預(yù)防,減少設(shè)備發(fā)生故障造成的重大損失,具有很大的經(jīng)濟(jì)效益。
1. 運(yùn)行中絕緣子的劣化以及復(fù)合絕緣子及其護(hù)套電蝕檢測(cè);
2. 高壓變電站及線路的整體維護(hù);
3. 支柱式絕緣上的微觀裂紋檢測(cè);
4. 懸掛式瓷絕緣中的零值絕緣子檢測(cè);
5. 評(píng)估絕緣設(shè)備表面的污穢程度 ;
6. 評(píng)估驗(yàn)收高壓帶電設(shè)備布局、結(jié)構(gòu)、安裝、設(shè)計(jì)是否合理;
7. 檢測(cè)運(yùn)行中電力設(shè)備外絕緣子閃絡(luò)痕跡;
8. 高壓輸電線路斷股及繩徑過(guò)小而引起的電暈放電;
9. 高壓輸變電設(shè)備上可能搭接的導(dǎo)電物體,如金屬絲;
10. 大型發(fā)電機(jī)定子線棒端部和槽壁電暈放電檢測(cè);
11. 尋找無(wú)線電干擾源;壓設(shè)備的放電會(huì)產(chǎn)生強(qiáng)大的無(wú)線電干擾,影響到附近的通訊、電視信號(hào)的接收等,使用紫外成像技術(shù)可迅速找到無(wú)線電干擾源。
12. 高壓電器設(shè)備局部放電試驗(yàn)中利用紫外成像技術(shù)尋找或定位設(shè)備外部的放電部位。
UV(紫外成像儀檢測(cè))和IR(紅外熱像儀檢測(cè))技術(shù)的比較。UV檢測(cè)和紅外成像是一種互補(bǔ)性而非沖突性技術(shù)。電力設(shè)施一個(gè)完整的檢測(cè)應(yīng)該包括紫外成像、紅外成像和可見(jiàn)光檢測(cè)。電暈是一種發(fā)光的表面局部放電,由于空氣局部高強(qiáng)度電場(chǎng)而產(chǎn)生電離。該過(guò)程引起微小的熱量,通常紅外檢測(cè)不能發(fā)現(xiàn)。紅外檢測(cè)通常是在高電阻處產(chǎn)生熱點(diǎn)。紫外成像儀可以看到的現(xiàn)象往往紅外成像儀不能看到,而紅外成像儀可以看到的現(xiàn)象往往紫外成像儀不能看到。
項(xiàng)目 | 紫外UV檢測(cè) | 紅外IR檢測(cè) |
光譜范圍 | 0.250-0.280微米,用于白天電暈的檢測(cè) | 8-14微米 |
儀器敏感范圍 | 紫外輻射 | 熱產(chǎn)生的紅外輻射 |
產(chǎn)生原因 | 絕緣子、套管、導(dǎo)線、污染產(chǎn)生電暈和電弧;導(dǎo)線損壞;分離器松弛;部件的尖部;安裝不當(dāng)?shù)膹?fù)合絕緣子;缺少弧型喇叭等 | 有電流時(shí)的高電阻缺陷。連接不良;帶電絕緣子內(nèi)部缺陷,電弧。 |
電力因素 | 與電壓有關(guān) | 與電流有關(guān) |
檢測(cè)時(shí)加載 | 需要 | 需要 |
強(qiáng)陽(yáng)光的干擾 | 無(wú),成像儀不受太陽(yáng)光的影響。儀器*為“太陽(yáng)盲區(qū)”。 | 有 |
天氣狀況 | 高濕度,低氣壓和高溫促進(jìn)電暈放電 | 高溫天氣干擾檢測(cè),雨天不能檢測(cè) |
缺陷的檢測(cè)導(dǎo)致: | ||
音頻噪音 | 有 | 無(wú) |
TV和無(wú)線電干擾 | 可以 | 無(wú) |
儀器特性: | ||
成像通道 | 雙通道:可見(jiàn)光+UV,可合成一個(gè)視頻圖像 | 單通道或者可見(jiàn)光+紅外通道 |
FOV | 比UV成像儀寬 | |
輸出 | 視頻剪輯 | 靜態(tài) |
檢測(cè)模式 | 便攜式,固定式,機(jī)載式 | 便攜式,固定式,機(jī)載式 |
檢測(cè)階段 | 一般可檢測(cè)出缺陷劣化前期 | 往往檢測(cè)缺陷后期的現(xiàn)象 |
[1]、強(qiáng)電弧產(chǎn)生UV和IR。
[2]、在許多場(chǎng)合由于加載不足無(wú)法進(jìn)行紅外檢測(cè)。
[3]、UV通道采用臭氧吸收所有太陽(yáng)輻射的波段,為“太陽(yáng)盲區(qū)”。就算在太陽(yáng)光在UV儀器視場(chǎng)中,也能檢測(cè)電暈放電和定位。
[4]、這些干擾也可以用超聲波探傷法來(lái)檢測(cè),可顯示干擾源的方向。與超聲波探傷法相比,成像儀在遠(yuǎn)距離時(shí)靈敏度更高,并能夠準(zhǔn)確定位干擾源。
[5]、電暈并非是連續(xù)性現(xiàn)象;成像需要短時(shí)間的視頻剪輯。
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